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密析爾高精度冷鏡露點(diǎn)儀露點(diǎn)水分測定儀

更新日期：2023-08-16

簡要描述：

密析爾高精度冷鏡露點(diǎn)儀露點(diǎn)水分測定儀，集操作簡單和高度靈敏于一體的高精度露點(diǎn)儀。新型S8000露點(diǎn)儀可直接測量露點(diǎn)、溫度和壓力。露點(diǎn)測量基于經(jīng)證實的基礎(chǔ)光學(xué)冷鏡測量原理，可在整個工作量程內(nèi)，得出長期穩(wěn)定、無漂移的濕度測量結(jié)果。

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品牌	michell/英國	重復(fù)性	2℃
準(zhǔn)確度	0.1℃	工作溫度	100℃
價格區(qū)間	1萬-5萬	儀器原理	鏡面式
產(chǎn)品種類	便攜	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源

密析爾高精度冷鏡露點(diǎn)儀露點(diǎn)水分測定儀，集操作簡單和高度靈敏于一體的高精度露點(diǎn)儀。新型S8000露點(diǎn)儀可直接測量露點(diǎn)、溫度和壓力。露點(diǎn)測量基于經(jīng)證實的基礎(chǔ)光學(xué)冷鏡測量原理，可在整個工作量程內(nèi)，得出長期穩(wěn)定、無漂移的濕度測量結(jié)果。利用這一測量方式，S8000提供一系列測量單位，包括ppmV、濕度、相對濕度和ppmW。

亮點(diǎn)

精確度為± 0.1°Cdp（± 0.18°Fdp）
基準(zhǔn)的、精確的測量、無漂移
簡單的觸摸操作配置界面
精準(zhǔn)測量-60°C（–76°F）露點(diǎn)
FAST技術(shù)–確保0°C（+ 32°F）以下鏡面結(jié)霜
工作壓力高達(dá)2MPa（20barg）
支持USB、Ethernet、RS485或RS232連接
通過SD卡或數(shù)字端口進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄

密析爾高精度冷鏡露點(diǎn)儀露點(diǎn)水分測定儀，技術(shù)參數(shù)

露點(diǎn)傳感器性能
測量技術(shù)	冷卻鏡面
精度*	±0.1°C (±0.18°F)
重復(fù)性	±0.05°C (±0.09°F)
量程范圍	-60至+ 40°Cdp（-76至+ 104°Fdp）
運(yùn)行溫度	低壓版 0至1barg/14.5psig 高壓版 0至20 barg/290 psig
樣本流速	0.1至1Nl/min（0.2至2.1scfh）
檢測系統(tǒng)	RRS三重檢測
遠(yuǎn)程PRT探針（備選）
溫度測量	4線Pt100, 1/10 DIN B級
測量精度	± 0.1°C（± 0.18°F）
線纜長度	2m（6.6’）（長250m（820’））
流量傳感器
測量精度	通常± 5%，未校準(zhǔn)
量程范圍	0至1000ml/min
集成壓力傳感器（可選）
量程范圍	0至25bara（0至377psia）
測量單位	psia、bara、KPa或MPag
監(jiān)視器
分辨率	精確至0.001，用戶可自行選擇，取決于設(shè)備參數(shù)
測量單位	°C 和°F用于露點(diǎn)及溫度%RH、g/m3、g/ kg、ppmV、ppmW（SF6），用于濕度計算
輸出	3個頻道，用戶可從4-20mA、0-20mA或0-1V中自行選擇數(shù)字信號 USB、備選RS232和RS485通訊接口或以太網(wǎng)TCP協(xié)議報警信號 2個無電壓轉(zhuǎn)換觸點(diǎn)，1個過程報警，1個故障報警；30V DC下1A
HMI	5.7” LCD觸控屏，藍(lán)屏白字
數(shù)據(jù)記錄	內(nèi)置SD卡（512Mb）和USB接口 SD卡（FAT-32） — 高32Gb，可存儲2400萬條數(shù) 據(jù)或以2秒間隔累計記錄560天
環(huán)境條件	-20至+ 40°C（-4至+ 104°F）
供電	85至264V AC，47/63Hz
功耗	100 瓦
EMC - *評定	符合EN61236:1997（+ A1/A2/A3）
結(jié)構(gòu)規(guī)格
尺寸	187 x 440 x 343mm（7.36 x 17.32 x 13.5”）高 x 寬 x 長
重量	11.4kg（25.1lb）
通用
過程連接	6mm Swagelok®（公接頭）或1/4” Swagelok®（公接頭）
儲存溫度	-20至+ 50°C（-40至+ 122°F）
校準(zhǔn)	3點(diǎn)可溯源原廠校驗（標(biāo)準(zhǔn)）或經(jīng)UKAS認(rèn)證的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) - 詳情咨詢密析爾儀表公司
* 測量精度指測試和校正參考下儀器的大偏差。還應(yīng)考慮測試和后續(xù)使用中校準(zhǔn)系統(tǒng)及環(huán)境條件的不確定性。

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